Rasterkraftmikroskop (AFM)

Abbildung von Oberflächen, Charakterisierung nanomechanischer Eigenschaften, nanoskalig aufgelöste Ermittlung viskoelastischer und thermischer Eigenschaften, nanoskalig aufglöste IR-Spektroskopie

Hersteller: Bruker Nano GmbH

Modell: Dimension IconIR

Laterale Auflösung: bis zu 2 nm (abhängig von der Messspitze)

x/y-Scanbereich: 300 nm bis 100 µm

z-Scanbereich: 10 µm

Max. Probendurchmesser: 150 mm

Max. Probendicke: 70 mm

Heizung: RT-250 °C

Mess-Modi: AFM-Standardmodi (Tapping Mode, Contact Mode, Lateral Force Microscopy, Force Volume ...), Peak Force Tapping, Peak Force QNM, nano-DMA, photothermisches AFM-IR (Wellenzahlbereich: 1850-750 cm-1), nano-TA (RT-350 °C)

Zuständiges Kompetenzfeld:

Tailored Thermosets & Biomaterials

Kontakt

Dr.-Ing.

Bernd Wetzel

Techn.-Wiss. Direktor Werkstoffwissenschaft & Kompetenzfeldleiter Tailored Thermosets & Biomaterials

Spezielle Expertise: Multifunktionale Duroplaste, Nanokomposite, Tribologie, Bruchmechanik, Struktur-Eigenschaftsbeziehungen

Telefon: +49 631 2017 119

bernd.wetzel@leibniz-ivw.de

Vita

↰ Apparative Ausstattung