Rasterelektronenmikroskop mit EDX

Untersuchung von Oberflächentopografie, Orientierungs- und Materialkontrast

Hersteller: Carl Zeiss Mikroskopie GmbH
Modell: Supra 40 VP
Auflösung: 1 nm
Vergrößerung: 10 bis 900.000x
Variabler Druckbetrieb: bis 140 Pa
Sekundärelektronenabbildungen
Rückstreuelektronenabbildungen
Transmissionselektronenabbildungen
Detektoren: In Lens, SE2, BSE, VPSE, STEM

Zuständiges Kompetenzfeld:

Materialkreisläufe

Weitere Informationen:

CFC – CarbonFibreCycle

Kontakt

Dr.

Barbara Güttler

Kompetenzfeldleiterin Materialkreisläufe

Spezielle Expertise: Biocomposites, Kohlenstofffaserrecycling, Materialanalytik, Methodenentwicklung, Bioökonomie

Raum: 58/332